加速壽命試驗及其在電子產(chǎn)品上的應(yīng)用 Accelerated Life Testing and Application in Electronic Products 中國電子產(chǎn)品可靠性與環(huán)境試驗研究所  王升鴻 Wang Shenghong  丁成功 Ding Chenggong 摘 要：加速壽命試驗是電子元器件可靠性試驗中的一項重要的試驗手段，采取加速壽命試驗的主要目的是加快試驗進度，為預測系統(tǒng)或設(shè)備的可靠度提供重要依據(jù)。本文簡要介紹了三種加速壽命試驗方案和加速壽命試驗理論依據(jù)，詳細介紹了溫度和濕度應(yīng)力條件下的加速壽命計算方法，為工程技術(shù)人員提供進行其它產(chǎn)品的加速壽命試驗提[登陸后可查看全文]