基于Halcon的太陽能硅片缺陷檢測技術(shù)研究 Research on Solar Wafer Defect Detection Technology based on Halcon 齊魯工業(yè)大學（山東省科學院）電氣工程與自動化學院 段華偉 Duan Huawei 摘 要：針對太陽能硅片生產(chǎn)過程中碎片率增加的問題，同時為了有效避免太陽能電池對相關(guān)工藝造成的影響，需要使用機器視覺系統(tǒng)進行有效的缺陷檢測，因此，提出了基于Halcon圖像處理的太陽能硅片表面缺陷系統(tǒng)的總體設(shè)計方案，介紹了太陽能硅片檢測系統(tǒng)的主要組成部分、圖像處理的關(guān)鍵算法以及實施此項技術(shù)的好處。 關(guān) 鍵 詞：太陽能硅片[登陸后可查看全文]