Wayne Kerr Electronics研討會(huì)于2014年04月11日在深圳會(huì)展中心6號館6C001舉行。測控技術(shù)是建立在電路與計(jì)算機(jī)基礎(chǔ)上的一門新興技術(shù)。21世紀(jì)的測控將是一個(gè)開發(fā)的系統(tǒng)概念，信息交換共享這個(gè)時(shí)代主題也是測控系統(tǒng)的發(fā)展方向，所以，通過組建網(wǎng)絡(luò)來形成使用測控系統(tǒng)已成為現(xiàn)代測控技術(shù)的發(fā)展趨勢。
深圳市穩(wěn)科電子儀器有限公司 林謙
本次會(huì)議針對測控技術(shù)主要提到以下3個(gè)方面：
1.影響測試的主要的幾個(gè)因素
2.儀器顯示問題
3.很難測準(zhǔn)的器件
Wayne Kerr Electronics成立于1946，總部在英國，主要設(shè)計(jì)和制造電子測試測量儀器專注LCR，并且擁有世界范圍內(nèi)的銷售網(wǎng)絡(luò)。本次會(huì)議由深Wayne Kerr Electronics林謙先生為大家做詳細(xì)講解。
在會(huì)上，林謙先生提到影響測試的主要有以下幾個(gè)因素：測試頻率的影響、測試信號源的大小、測試直流偏置大小影響、溫度影響、其他一些因素影響。并為大家介紹了其公司產(chǎn)品，32651臺輸出25A，5臺疊加可以到125A，最高使用頻率到3MHz；6565則是1臺加偏置電流10A，4臺疊加可以到40A，最高頻率到120MHz，客戶可按需求進(jìn)行選擇使用。
最后，在介紹很難測準(zhǔn)的器件時(shí)，林謙先生為大家分享了自己的經(jīng)驗(yàn)之談，在一些廠家通常有生產(chǎn)一種電容的ESR值非常小通常在uΩ級別，這個(gè)對儀器是一個(gè)考驗(yàn)。
