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集成電路檢測器 ICS 105

已有80591次閱讀2015-03-16標(biāo)簽:集成電路 微探頭組合 高頻
   集成電路檢測器 ICS 105 同 ICR 型號的近場微探頭組合使用,可對集成電路(ICS 105 GND 組套)和小型組件(ICS 105 UH 組套)進(jìn)行高頻近場測量。通過對集成電路的近場分析,能夠在高頻環(huán)境下對集成電路的內(nèi)部過程有準(zhǔn)確了解。集成電路的干擾發(fā)射問題將通過測量予以分析,找出集成電路中產(chǎn)生干擾發(fā)射的部位。
 
  圖 1 近場微探頭 ICRHH 150-27 是一款帶有水平測量線圈的探頭,用于磁場測量。測量分辨率為 50 µm,測量范圍為 1.5 GHz 至 6 GHz。
 
  除了朗格爾電磁兼容技術(shù)有限公司的 ICR 型號近場微探頭之外,還可借助探頭支架 SH 01 將手持式探頭或場源置入到 ICS 105 之中(圖 2)。
 
  使用不同的 ICR 近場微探頭,可在 (50x50x50) mm 的空間范圍內(nèi)分別對磁場或電場進(jìn)行測量,測量結(jié)果通過軟件 CS-Scanner 在電腦上顯示。此外,ICR 近場微探頭可通過旋轉(zhuǎn)軸自動旋轉(zhuǎn) 360°,以確定磁場的確切方向。借助視頻顯微鏡,可方便近場微探頭在測量目標(biāo)上的精確定位。ICS 105 檢測器的最小步進(jìn)值為 10μm,可實現(xiàn)極高分辨率的測量(圖 1)。
 
  ICR 型近場微探頭適用于 1.5 MHz 至 6 GHz 頻率范圍內(nèi)的測量,可達(dá)到的測量分辨率約為 50μm。用于磁場測量的近場微探頭可提供兩種不同的基本規(guī)格。ICR HV 近場微探頭帶有垂直測量線圈,ICR HH 近場微探頭帶有水平測量線圈。ICR E 近場微探頭的探針頭包括一個水平電極,用于電場測量。
 
  不同類型的近場微探頭配置齊全,確保在完成各類眾多實際測量任務(wù)時能夠選取最佳的探頭型號。
 
  使用近場微探頭可以進(jìn)行下列測量:
 
  - 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) IEC61967-3 進(jìn)行集成電路表面掃描
 
  - 集成電路容量掃描
 
  - 針腳掃描
 
  在測量過程中,只在相應(yīng)測量目標(biāo)上方移動數(shù)個 ?m,確保精準(zhǔn)的近場數(shù)據(jù)采集。近場微探頭的外殼中內(nèi)置前置放大器,通過 Bias-Tee 偏置器供電。
 
  圖 2 ICS 105 是一款桌上設(shè)備。緊湊的尺寸(350 x 400 x 420)mm和輕巧的重量(23 kg)令其能夠方便安放在開發(fā)人員的工作臺上。
 
  集成電路檢測器 ICS 105 通過 USB 接口連接至電腦,通過朗格爾電磁兼容技術(shù)有限公司的軟件 ChipScan-Scanner(CS-Scanner,芯片掃描器)進(jìn)行控制(圖 3)�?梢酝ㄟ^軟件控制實現(xiàn)近場微探頭的移動以及復(fù)雜測量流程的編程。
 
 
  圖 3 測量時 ICS 105 同頻譜分析儀和電腦相連。通過測量與分析軟件 CS-Scanner 對 ICS 105 進(jìn)行控制,對測量結(jié)果予以記錄。
 
  由朗格爾電磁兼容技術(shù)有限公司研制的軟件 CS-Scanner 可實現(xiàn)對頻譜分析儀中的測量數(shù)據(jù)進(jìn)行讀出、進(jìn)行圖像顯示(2D 或 3D,圖 4)、對測量數(shù)據(jù)的保存和輸出(CSV 文件格式)。頻譜分析儀上的最重要設(shè)置也可通過軟件進(jìn)行(圖 5 )。
 
 
  圖 4 軟件 ChipScan-Scanner 生成 3D 容積掃描

 
  圖 5 軟件 CS-Scanner 的操作界面。右側(cè)為用于所連接頻譜分析儀的操作面板。左上方為測量圖表和跟蹤管理器,對所有已進(jìn)行的測量予以記錄。
 
  輔以控制與分析軟件 ChipScan-Scanner 的集成電路檢測器 ICS 105
 
  - 通過電腦/筆記本進(jìn)行控制
 
  - 零點(diǎn)位置、近場微探頭手動或基于腳本的移動
 
  - 從頻譜分析儀中讀出數(shù)據(jù)
 
  - 測量數(shù)據(jù)的 2D 或 3D 圖形顯示
 
  - 輸出成 csv 文件或圖形文件
 
  - 在集成電路上進(jìn)行的自動測量:
 
  - 根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) IEC61967-3 進(jìn)行集成電路表面掃描
 
  - 集成電路容量掃描
 
  - 針腳掃描
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