GE檢測(cè)控制技術(shù)參加了在上海舉辦的2012年中國(guó)半導(dǎo)體展覽會(huì)Semicon China�,F(xiàn)場(chǎng)向觀眾展示GE的高性能X射線檢測(cè)系統(tǒng),這是一款GE去年新推出的具有卓越的性價(jià)比的檢測(cè)系統(tǒng),可簡(jiǎn)便地用于半導(dǎo)體分裝封裝和線路板組裝等電子行業(yè)領(lǐng)域。除此之外, 還會(huì)展示GE的傳感器,現(xiàn)場(chǎng)儀表以及超聲檢測(cè)系統(tǒng)等。
GE的展位位于上海新國(guó)際展覽中心E5館5505-5507。









