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軟特性650V IGBT:低電磁干擾和電壓尖峰的優(yōu)化器件

作 者:Wilhelm Rusche Andreas 單 位:英飛凌科技股份公司 閱讀 36060
1 引言 該器件專門設(shè)計用于中高電流應(yīng)用。相對于600v igbt3,全新芯片具備更出色的關(guān)斷軟度和更高的阻斷電壓功能。此外,該器件的短路能力大幅增強。而600v igbt3主要適用于低功率應(yīng)用或雜散電感很低的高功率應(yīng)用。 圖1 全新650v igbt4的截面圖 2 650v igbt4的設(shè)計與技術(shù) 全新的650v igbt4[1]采用溝槽mos-top-cell薄片技術(shù)和場終止概念,如圖1所示。溝槽與場終止技術(shù)的結(jié)合,帶來相對低的通態(tài)和關(guān)斷損耗。相對于600v igbt3,該芯片的厚度增加約15%,mos溝道的寬度降低約20%。因此,關(guān)斷軟度得以改進,從而降低電磁干擾。當然,這[登陸后可查看全文]
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