日期:2012-01-09 16:08
技術(shù),不僅可靠性高且具備高效能。40nm閃存測試組件的評估結(jié)果,已證明其在三個重要的參數(shù)(數(shù)據(jù)保存、程序/擦寫周期耐受性及程序設(shè)計時間)方面,均能成功做到優(yōu)異的特性表現(xiàn)。40nm制程節(jié)點可整合多種與安全相關(guān)的功能性與通訊接口。
瑞薩電子40nm閃存IP保證數(shù)據(jù)可保存20年,并可在最高170℃結(jié)合溫度下進(jìn)行讀取。此外,程序代碼閃存支持120MHz讀取速度,而數(shù)據(jù)閃存即使在125,000次程序/擦寫周期后,仍可達(dá)到業(yè)界領(lǐng)先的20年超長數(shù)據(jù)保存時間。
2/2 下一頁 上一頁 首頁 尾頁
返回 刷新 WAP首頁 網(wǎng)頁版 登錄
05/19 14:45