安捷倫與中科大共建聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室，攜手解決IC研發(fā)測(cè)試難題
日期:2012-11-01 17:19
C）的建模與仿真，并與安捷倫公司的電子測(cè)試儀器相結(jié)合，構(gòu)建成完整的從IC建模、仿真到測(cè)試的流程，從而推動(dòng)研究院和企業(yè)共同發(fā)展。
聯(lián)合實(shí)驗(yàn)室將應(yīng)用安捷倫公司在業(yè)界領(lǐng)先的集成電路（IC）建模及仿真工具，進(jìn)行多種工藝下IC建模和測(cè)試的研發(fā)，準(zhǔn)備開發(fā)首創(chuàng)的片上測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)件和校準(zhǔn)方法，解決芯片研發(fā)測(cè)試不確定難題，致力于建成集創(chuàng)新、研發(fā)和測(cè)試于一體的高新實(shí)驗(yàn)室，推動(dòng)合肥成為IC建模和測(cè)試基地。該實(shí)驗(yàn)室的建立，對(duì)于安捷倫在安徽地區(qū)的平臺(tái)方案建設(shè)有極大的推進(jìn)作用。安捷倫從儀器設(shè)備供應(yīng)商，上升到產(chǎn)業(yè)升級(jí)和技術(shù)創(chuàng)新的合作方，
2/3 下一頁(yè) 上一頁(yè) 首頁(yè) 尾頁(yè)
返回
刷新
WAP首頁(yè)
網(wǎng)頁(yè)版
登錄
05/14 14:15